IGBT多性能测试线
该流程已在IGBT测试工艺整线中验证,具备高集成度、自动化与全流程追溯的优势。
项目:VGE(th)、ICES、VCE(sat)、VF、GFS、Ciss/Coss/Crss等。
能力:采用四线开尔文与多量程源表;静态系统典型配置支持最高约3500V、大电流脉冲至约6000A、电容测试至1 MHz;窄脉冲(如50–500 μs)与同步采样抑制自热,保障小电流与饱和压降测量精度。
能力:基于双脉冲测试平台,用高压隔离探头测Vce、罗氏线圈/电流探头测Ic、普通探头测Vge;通过调节Rgon/Rgoff评估开通/关断应力与吸收网络需求,并关注母线杂散电感引起的电压尖峰与振荡
绝缘耐压与压力模拟:
端子间耐压/绝缘与安装压力下的密封/接触一致性验证。
产线化与自动化:
整线集成上/下料、打标、耐压、加热、高温静/动态、冷却、常温静、弧度、全尺寸外观、分Bin等工站,支持托盘化流转、扫码追溯、机器人上下料与OK/NG分选设备优势
适配性高:贴合汽车零部件行业批量、标准化的生产需求,提升产品生产一致性。
